光学材料の群屈折率精密計測方法及び装置

開放特許情報番号
L2004003697
開放特許情報登録日
2004/3/12
最新更新日
2015/9/9

基本情報

出願番号 特願2003-391702
出願日 2003/11/21
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2005-156207
公開日 2005/6/16
登録番号 特許第3985045号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 光学材料の群屈折率精密計測方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 光学材料開発、光学部品、光学装置の維持管理、屈折率評価装置、分散評価装置、光学材料の厚さ情報無しで群屈折率を精密計測、ブロードバンド光通信、超短パルスレーザー、光医療計測
目的 一つの干渉計で直列に接続された二つの干渉計に相当させることにより、コンパクトで安価、安定、精密な装置を構成することができ、また、測定結果から試料の厚さ情報を求めることができるようにした、光学材料の厚さ情報不要な群屈折率と厚さ精密計測方法及びその方法を実施する装置の提供。
効果 一つの干渉計によって直列に接続された二つの干渉計と実質的に同一作用をなすことができるため、コンパクトで安価であり、安定した作動を行う精密な装置を構成することができる。
技術概要
この技術では、光学材料の群屈折率精密計測方法は、光源に低コヒーレンス光源を用い二つの干渉計を直列に接続してなる干渉計に対して、被測定試料と二枚の補償板を用い、光路を切り換えつつ干渉計の鏡を光軸方向に走査し、低コヒーレンス干渉縞の発生する位置を測定して、群屈折率を計算する方法において、一つの干渉計に光を二回通すことにより、一つの干渉計を、直列に接続された二つの干渉計に相当させるようにしたものである。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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