光デバイスの特性評価システム

開放特許情報番号
L2004003120
開放特許情報登録日
2004/3/5
最新更新日
2015/10/30

基本情報

出願番号 特願平11-060413
出願日 1999/3/8
出願人 科学技術振興事業団
公開番号 特開2000-258299
公開日 2000/9/22
登録番号 特許第3393081号
特許権者 国立研究開発法人科学技術振興機構
発明の名称 光デバイスの特性評価システム
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 光通信技術、波長依存性の評価
目的 波長可変フェムト秒短パルス光源を用いて、光デバイスの特性を的確に、かつ、容易に評価することができる光デバイスの特性評価システムの提供。
効果 被測定デバイスの周波数応答特性を評価することができる。また、周波数応答や光デバイスの量子効率の波長依存性を測定することができる。
技術概要
この技術では、fsファイバーレーザーから出力される短パルスを光ファイバーに入射し、光ファイバー中の非線形効果によって、波長をシフトしたfsソリトンパルスを生成する。このソリトンパルスの波長は励起パルスの強度を変化させるだけで、ほぼ線形に変化させることができる。このfsソリトンパルスを被測定デバイスに入射し、サンプリングオシロスコープを用いて時間応答を観測する。更に、その観測結果をパーソナルコンピュータを用いてフーリエ変換することにより、光デバイスの周波数応答特性を得ることができる。また、ソリトンパルスの波長を変化させることによって、光受光器の周波数応答や光デバイスの量子効率の波長依存性を測定することができる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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