光導波路を用いた光反射式計測装置

開放特許情報番号
L2004000019
開放特許情報登録日
2004/1/9
最新更新日
2015/9/9

基本情報

出願番号 特願2003-342866
出願日 2003/10/1
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2005-106719
公開日 2005/4/21
登録番号 特許第4182211号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 光導波路を用いた光反射式計測装置
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 光反射式計測装置
目的 多重反射や散乱、更にはゆらぎ等の影響を受けることなく、また高価で性能の良くない分割タイプの受光素子を用いる必要がない光反射式計測装置の提供。
効果 光テコ法を用いた位置検出の高速化、高感度化、設置場所の自由度の増加等が可能となる。
技術概要
この技術では、光反射式計測装置は複数本の光導波路と、複数本の光導波路と同数の単一タイプのフォトダイオードとを備える。そして、複数の光導波路の一端部を束ねてその端面により測定対象物体からの反射光を受光する受光部を形成し、複数の光導波路の他端部に対向してフォトダイオードを配置し、複数のフォトダイオードによる各光導波路で伝送した受光信号により物体の位置または角度を検出する。または、光導波路を光ファイバーとしてもよい。また、光導波路の他端部とこれに対向するフォトダイオードとの間に集光レンズを配置してもよい。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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