光電変換特性評価方法およびそのための装置

開放特許情報番号
L2003008195
開放特許情報登録日
2003/10/17
最新更新日
2015/9/7

基本情報

出願番号 特願2002-031686
出願日 2002/2/8
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2003-234489
公開日 2003/8/22
登録番号 特許第4370391号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 光電変換特性評価方法およびそのための装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 光電変換特性評価装置
目的 光電変換特性の変化の様子を直接的に測定する光電変換特性評価方法およびそのための装置を提供する。
効果 光電変換特性の変化の様子を直接的に測定することができる。
技術概要
 
本発明は、光電変換素子に強度変調した光を照射し、その光に対して発生する光電流を強度変調した周波数、即ち、チョッパーのチョッピング周波数で同期検出して検出し、素子表面の同じ場所に別の光を照射することによって生じる同期検出出力の時間変化を記録し、それを解析するものである。図は本発明の光電変換特性評価装置のブロック構成図である。レーザー11は、連続発振の光源である。シャッター12は、光路を開閉する機能を有する。フィルター15は光強度を調節するために用いられている。チョッパー16は、レーザー光を強度変調し、矩形波に変換する機能を有する。チョッパー16の代わりに液晶素子や電気光学効果素子や音響光学効果素子を用いることも可能である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 有機光電変換素子において、光強度を増加させた場合に生じる光電変換効率の悪化の様子を観測でき、その時間応答からトラップされた光キャリアが解放されるまでの緩和時間を知ることができる。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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