光ファイバセンサを用いた材料の損傷評価方法及び装置

開放特許情報番号
L2003008190
開放特許情報登録日
2003/10/17
最新更新日
2015/9/7

基本情報

出願番号 特願2002-021254
出願日 2002/1/30
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2003-222571
公開日 2003/8/8
登録番号 特許第3790815号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 光ファイバセンサを用いた材料の損傷評価方法及び装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 探傷機、損傷評価装置
目的 材料の損傷の発生と状況、及び歪を評価する材料の損傷評価方法及び評価装置を実現する。
効果 FBGセンサからの出力にFBGフィルタでフィルタ処理を施し、得られた波形から材料の損傷を調べることができる。
技術概要
 
本発明は、図解するように、FBGセンサ10、10’を被検体2に取り付け、広帯域光源5から広帯域波長光を入力させ、特定の波長を有する光信号を反射させ、この反射光をFBGセンサと同じ光弾性定数、及び格子間隔を有するFBGを書き込んだ光ファイバを用いて処理し、弾性波放出にともない発生する高周波信号のみを光電変換器14、14’により電気信号に変換し、被検体2の損傷発生状況を調べるとともに、超音波発生素子8から超音波を発生させ、そのときに得られるFBGセンサ10、10’からの出力にフィルタ処理を施し、その波形から材料の損傷状況を調べる方法を提供し、あわせてそのための装置を提供するものである。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 光ファイバセンサにより材料の損傷発生時にともなう弾性波放出を検出することができ、超音波発生素子により材料に存在する損傷状況を調べることができる。
改善効果2 光周波数成分強度解析から材料が受けている歪を測定することができ、被検体の損傷状況を評価することができる。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2017 INPIT