光ファイバセンサを用いたひずみとAEの計測装置

開放特許情報番号
L2003006535
開放特許情報登録日
2003/8/22
最新更新日
2015/9/4

基本情報

出願番号 特願2003-172321
出願日 2003/6/17
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2005-009937
公開日 2005/1/13
登録番号 特許第3944578号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 光ファイバセンサを用いたひずみとAEの計測装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 ファイバ・ブラッグ・グレーティングセンサ、弾性波放出、アコースティック・エミッション、圧電素子、構造体の健全性評価、衝撃負荷
目的 アコースティック・エミッションや衝撃負荷による高速なひずみ変化をFBGセンサで検出する際に正確にひずみ変化を検出することができる光ファイバひずみセンサの実現。
効果 FBGセンサを用いてひずみとAEの両方を同時に一個のセンサで計測することができる。
技術概要
この技術では、ファイバ・ブラッグ・グレーティング(FBG)を書き込んだ光ファイバから成り被検体に取り付けられるFBGセンサを備えると共に、FBGセンサに広帯域波長光を入射するための広帯域光源を備え、さらに、FBGセンサから伝送される反射光を分岐するカップラーと、カップラーで分岐した反射光をそれぞれ反射又は透過させるひずみ計測用のフィルタ及びAE検出用のフィルタを備えて成る光ファイバセンサを用いて、ひずみとアコースティック・エミッション(AE)を計測する。ひずみ計測用のフィルタ及びAE検出用のフィルタは、二種類の波長のそれぞれに対応して互いに透過率が異なり、ひずみ計測用のフィルタ及びAE検出用のフィルタの透過光又は反射光は、ブラッグ波長の変化により強度が変化し、これらを光電変換器で電気信号に変換してひずみ変化とAEを同時に検出する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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