対称X型光学系

開放特許情報番号
L2003003079
開放特許情報登録日
2003/3/28
最新更新日
2015/9/1

基本情報

出願番号 特願2001-096543
出願日 2001/3/29
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所、川手 悦男
公開番号 特開2002-296111
公開日 2002/10/9
登録番号 特許第3470267号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所、川手 悦男
発明の名称 対称X型光学系
技術分野 機械・加工
機能 機械・部品の製造
適用製品 分散型分光光度計又はフーリエ変換型分光光度計に組み込める絶対反射率と絶対透過率の同時測定が可能な対称X型光学系
目的 広範に用いられている分散型分光光度計(主に、近赤外の波長より短い波長域で利用されている)やフーリエ変換型分光光度計(主に、近赤外の波長より長い波長域で利用されている)で、より簡便に、より精度良く物質の光学定数を決定するために、その物質の絶対反射率と絶対透過率を同時に測定できる対称X型光学系の実現。
効果 今までに市販されている分光光度計に適した形に改造可能で、対称X型光学系は広く社会で使われ、社会・経済・学術の発展に役立つと期待できる。2つの絶対反射率と2つの絶対透過率を測定し、これらから測定誤差が求められ、この誤差の情報から、光学測定が正しく行われているかどうかを判定できる。
技術概要
この技術では、試料に対して対称なX型に配置された4枚の楕円面鏡を有し、その楕円面鏡から選択された少なくとも2枚以上の楕円面鏡を組み合わせ、試料に対して表面と裏面からそれぞれ光を入射することにより、表面入射と裏面入射に対する絶対反射率及び表面入射と裏面入射に対する絶対透過率のいずれもが測定可能であり、分散型分光光度計又はフーリエ変換型分光光度計に組み込める。この対称X型光学系は、これら2つの絶対反射率と2つの絶対透過率をそれぞれ比較して、測定誤差を求め、この誤差の情報から反射率と透過率測定が正確におこなわれたかどうか判断できる。この技術の対称X型光学系は、2個のビーム切換器と、対称なX(エックス)型に配置した4個の楕円面鏡の焦点に試料支持台が配置されている。この支持台は、光軸上に試料又はブランクが置かれるように、自動的に切り替わる。この時ビーム切換器も連動して動作するように構成されている。この結果、移動部分が無くなり、従来必要であった『差し替え』も不要となり、絶対反射率と絶対透過率のデータの再現性も向上し、測定誤差が小さくなる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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