超伝導イメージ検出器

開放特許情報番号
L2003002915
開放特許情報登録日
2003/3/28
最新更新日
2015/8/31

基本情報

出願番号 特願2000-394757
出願日 2000/12/26
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2002-196081
公開日 2002/7/10
登録番号 特許第3543111号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 超伝導イメージ検出器
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 元素・分子の精密微量分光分析、蛍光X線法、電子ビーム励起X線法、イオンビーム衝撃X線法
目的 超伝導トンネル接合(以下、STJ)を用いた、放射線の入射分布を検出する超伝導イメージ検出器に関し、特に検出素子である超伝導接合素子に印加する磁場を個別に調節できる超伝導イメージ検出器の提供。
効果 STJの特性や外部磁界の入射角度など素子の作製上のバラツキを個々に調整できるので、STJを用いたイメージ放射線検出器の検出性能の向上と安定動作の両方について改善を図ることができ、高性能な放射線検出器を実現できる。
技術概要
この技術は、放射線の入射によってフオノンあるいは準粒子などを発生する基板又は超伝導薄膜の領域の周囲に複数の超伝導トンネル接合が集積され、各々のSTJにそれぞれ異なるマイクロストリップコイルが各STJの上に電磁的に結合するように集積された構造であって、各STJ間の電圧信号を取り出し、マイクロストリップ線路に電流を流してトンネル接合のジョセフソン電流及びフィスケステップを抑制した状態でトンネル接合間の電圧信号を取り出し、基板又は超伝導薄膜に入射する放射線の放射位置及びエネルギをイメージ検出するイメージ検出器を提供するものである。この際、好ましくは、マイクロストリップコイルに流れる電流を調整することにより、それぞれのSTJのジョセフソン電流およびフィスケステップの抑制効果が等しくなるように調整する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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