レーザを用いた成分分析方法

開放特許情報番号
L2003001957
開放特許情報登録日
2003/3/14
最新更新日
2014/8/6

基本情報

出願番号 特願2000-175665
出願日 2000/6/12
出願人 工業技術院長
公開番号 特開2001-349832
公開日 2001/12/21
登録番号 特許第3660938号
特許権者 経済産業大臣
発明の名称 レーザを用いた成分分析方法
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 ガス、極微量成分、濃度
目的 ガス中に含まれる成分の濃度を高感度かつ安定に計測することができるレーザを用いた成分分析方法の提供。
効果 ガス中に含まれる成分の濃度を高感度かつ安定に計測することができる。
技術概要
この技術は、レーザ光を測定対象物に照射し、測定対象物に含まれる成分をプラズマ化させ、そのプラズマ光を分光することにより、測定対象物中の成分を検出するレーザを用いた成分分析方法とする。そして、各成分元素からの発光ラインに関し、発光に起因する上位エネルギ準位に対応した遅れ時間および計測時間をそれぞれ設定し、設定した遅れ時間および計測時間と測定対象物に含まれる複数の成分原子の比とを用いて、測定対象物中の各成分の濃度をそれぞれ計測する。ここで、「測定対象物に含まれる複数の成分原子の比」とは、プラズマ化した成分原子の発光に起因する上位エネルギ準位に応じた発光信号の積分値を各成分原子ごとにそれぞれ計測し演算し、得られた積分値につき複数の成分原子間に関して求めた比率をいう。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

アピール内容 中小企業・ベンチャー企業の場合は、通常対価の半額で実施可能。 詳細は、経済産業省HP((http://www.meti.go.jp/policy/tech_promotion/index.html))の [国有特許]のページをご覧ください。

登録者情報

登録者名称 経済産業省

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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