光分散測定装置

開放特許情報番号
L2003001347 この特許の事業構築のヒントや可能性をご覧頂けます
開放特許情報登録日
2003/3/7
最新更新日
2015/12/3

基本情報

出願番号 特願2000-265529
出願日 2000/9/1
出願人 独立行政法人情報通信研究機構、カジ サルワル アベディン
公開番号 特開2001-194268
公開日 2001/7/19
登録番号 特許第3388227号
特許権者 国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称 光分散測定装置およびそれを用いた測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 光分散測定装置
目的 高精度な測定性能を保ちながら、大幅にコストダウンする。
効果 従来の光分散測定装置に必要であった高価な広い周波数帯域をもつ光検出器や、オシロスコープ、ネットワークアナライザなどが不要になりコストダウン。
技術概要
測定光を分岐し、一方の測定光は被測定物を通過する前に変調し、他方の測定光は通過した後で変調する。この2成分の検査光は、出射する際に干渉し会い、その平均出力は変調周波数に依存する。変調周波数をスキャンしながら出射光の出力を測定すると、周期的な干渉フリンジが見られる。光源の波長を変えると、フリンジがシフトすることを利用して、光の波長分散測定を行う。この方式を用いることで、装置構成を大幅に簡易化できる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】
実施権条件 通常実施権
対価条件(一時金) 【要】実施規模等を勘案して考慮
対価条件(ランニング) 【要】実施規模等を勘案して考慮

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 簡易で安価な構成でありながらも、光ファイバー敷設現場や研究所において、光の群速度分散の測定、ファイバーの長さ測定、測定対象までの距離測定などを高精度で行える。

登録者情報

技術供与

ノウハウ提供レベル
量産仕様の提供 【可】
特殊仕様の提供 【可】

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
設備売却の意思 【無】
設備購入ルート
自社ルート提供 【否】
設備メーカ紹介 【否】
販売ルート
自社ルート提供 【否】
販売会社紹介 【否】
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