測定システムおよび測定方法
- 開放特許情報番号
- L2023000247
- 開放特許情報登録日
- 2023/4/3
- 最新更新日
- 2023/6/15
基本情報
| 出願番号 | 特願2021-139435 |
|---|---|
| 出願日 | 2021/8/27 |
| 出願人 | 国立大学法人横浜国立大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2023/3/9 |
| 発明の名称 | 測定システムおよび測定方法 |
| 技術分野 | 電気・電子、情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
| 適用製品 | 測定システムおよび測定方法 |
| 目的 | アンテナのＩＭの推定を簡易的な構成の測定システムで実現することのできる技術を提供する。 |
| 効果 | アンテナのＩＭの推定を簡易的な構成の測定システムで実現することができる。 |
技術概要) |
ＩＭ測定器と、センシングアンテナと、測定対象であるアンテナと、ＩＭ発生装置とを備え、ＩＭ測定器、およびＩＭ測定器に接続されるＩＭ発生装置を有する第１測定システムと、ＩＭ測定器、ＩＭ測定器に接続されるセンシングアンテナ、アンテナ、およびＩＭ発生装置を有する第２測定システムと、ＩＭ測定器、ＩＭ測定器に接続されるセンシングアンテナ、およびアンテナを有する第３測定システムとを構成可能な測定システムであって、
第１測定システムのＩＭ測定器は、 第１送信部と、 第１受信部と、 第１推定部と、 を備え、 第２測定システムのＩＭ測定器は、 第２送信部と、 第２受信部と、 第２推定部と、 を備え、 第３測定システムのＩＭ測定器は、 第３送信部と、 第３受信部と、 第３推定部と、 を備える測定システム。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
アピール情報
| アピール内容 | 5G、ポスト5Gなどで用いられるマイクロ波領域のアンテナでは、ボンディング箇所などでの接触、接続不良で発生する「相互変調ひずみ（PIM）」が今後ますます問題となってきます。本発明はPIMを非接触小電力で、しかも多数個同時測定を可能とする技術です。 |
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登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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