日射計測装置ならびにこれを使用する照射状態分析装置および光分布測定装置

開放特許情報番号

L2022001200

開放特許情報登録日

2022/8/10

最新更新日

2022/8/10

基本情報

出願番号	特願2020-080835
出願日	2016/4/27
出願人	国立大学法人豊橋技術科学大学
公開番号	特開2020-126070
公開日	2020/8/20
登録番号	特許第6928396号
特許権者	国立大学法人豊橋技術科学大学
発明の名称	日射計測装置ならびにこれを使用する照射状態分析装置および光分布測定装置
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造
適用製品	日射の状態を計測するための日射計測装置と、この日射計測装置を使用する光の照射状態を分析する分析装置および光分布測定装置
目的	温度変化を補正しつつ日射を計測し得る日射計測装置を提供するとともに、この日射計測装置を使用しつつ、特定波長の照射の状態を計測し、または反射光などの散乱光を含む光の照射分布を測定し得る装置を提供する。
効果	温度変化を気温ではなく物体温度に応じて抵抗値を変化させることができるため、光電変換センサそのものの温度変化に応じた補正を可能にするものである。 個々の光電変換センサの受光面には特定波長帯域の光を限定的に透過するバンドパスフィルタが備えられており、特定波長帯域の光ごとの照射状態を測定することができ、日射全体のうちの特定波長の照射割合を算出することができる。 日射によって直接照射される光のほかに反射光を含む散乱光の照射状態を測定することができ、所定領域内における光の照射分布を得ることができる。
技術概要	光電変換センサ群、または光電変換センサ群を接続してなる光電変換センサモジュールと、 光電変換センサ、光電変換センサ群、光電変換センサモジュール、または光電変換センサモジュールを接続してなる光電変換センサモジュール群の中から選択された両端に接続された抵抗と、抵抗に対して接続されたサーミスタとを備え、 抵抗およびサーミスタによって出力抵抗を形成し、出力抵抗の両端に発生する電圧からオームの法則に基づく略短絡電流値を得るとともに、略短絡電流値の変化量による日射計測装置において、 光電変換センサ、センサ群、光電変換センサモジュール、センサモジュール群は、ケース内部に収納されており、ケースは、波長３００ｎｍ以上における波長帯域の光が透過可能である面を有しており、光電変換センサ、光電変換センサ群の各受光面が、透光面に向かって配置されており、 サーミスタは、ケース内部に収容される光電変換センサ、センサ群、光電変換センサモジュールまたはセンサモジュール群の裏面、および、ケースの壁面から選択された面に当接した状態で配置され、 同じ種類の面に複数設けられたものである日射計測装置。
実施実績	【有】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立大学法人豊橋技術科学大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】