スケール厚さ推定システム、スケール厚さ推定方法、およびスケール厚さ推定プログラム
- 開放特許情報番号
- L2021000303
- 開放特許情報登録日
- 2021/3/18
- 最新更新日
- 2021/6/23
基本情報
出願番号 | 特願2020-514062 |
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出願日 | 2019/4/3 |
出願人 | 国立大学法人東京海洋大学 |
公開番号 | |
公開日 | 2019/10/24 |
登録番号 | |
特許権者 | 国立大学法人東京海洋大学 |
発明の名称 | スケール厚さ推定システム、スケール厚さ推定方法、およびスケール厚さ推定プログラム |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 検査・検出 |
適用製品 | スケールの厚さを推定するためのスケール厚さ推定システム、スケール厚さ推定方法およびスケール厚さ推定プログラム |
目的 | 比較的容易に測定可能な値に基づいて、流路の内面に形成されるスケールの厚さを精度良く推定することが可能なスケール厚さ推定システム、スケール厚さ推定方法およびスケール厚さ推定プログラムを提供する。 |
効果 | 比較的容易に測定可能な値に基づいて、流路の内面に形成されるスケールの厚さを精度良く推定することができる。 |
技術概要 |
流路内を流れる流体の温度を取得する流体温度取得部と、
前記流路の外表面の温度を取得する流路外表面温度取得部と、 前記流路の外表面における熱流束を取得する熱流束取得部と、 前記流路の流路壁熱伝導率を取得する流路壁熱伝導率取得部と、 前記流路の内面に付着するスケールのスケール熱伝導率を取得するスケール熱伝導率取得部と、 前記流体の温度、前記外表面の温度、前記熱流束、前記流路壁熱伝導率および前記スケール熱伝導率に基づいて、前記スケールの厚さを推定するスケール厚さ推定部と、 を備えることを特徴とするスケール厚さ推定システム。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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