適用製品
内部状態解析方法およびプログラム並びに構造物、内部状態解析装置
目的
所定の高透過性を有する粒子である高透過性粒子の性質を用いて構造物の内部状態をより適正に解析する。
より適正な解析結果を用いた構造物の製造を可能にする。
効果
より適正な解析結果を用いた構造物の製造を可能にすることができる。
技術概要
所定の高透過性を有する粒子である高透過性粒子の性質を用いて構造物の内部の状態を解析する内部状態解析方法であって、
前記構造物の内部を通過する前記高透過性粒子の軌跡に基づいて定められる前記高透過性粒子の散乱角の分布を用いて該高透過性粒子の散乱角を設定すると共に該設定した散乱角を用いて前記構造物の内部の状態を解析するステップを含み、
前記ステップは、前記高透過性粒子が通過する通過経路の長さと該通過経路における物質の密度とを用いて前記散乱角の分布を定める、
ことを特徴とする内部状態解析方法。
基本情報
開放特許情報
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