姿勢パラメータ推定技術
- 開放特許情報番号
- L2019000344
- 開放特許情報登録日
- 2019/3/5
- 最新更新日
- 2019/3/5
基本情報
| 出願番号 | 特願2012-174321 |
|---|---|
| 出願日 | 2012/8/6 |
| 出願人 | ＫＤＤＩ株式会社 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2014/2/20 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | ＫＤＤＩ株式会社 |
| 発明の名称 | 画像処理装置及び方法 |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出 |
| 適用製品 | 画像処理装置及び方法 |
| 目的 | 複数の指標を撮像した単一の撮像画像のみから、撮像装置以外のセンサや指標の配置に関する事前情報を用いることなく基準座標系の姿勢を高精度に推定すること。 |
| 効果 | 予め指標同士の配置の情報を与えておくことなく、当該指標同士の配置の情報の近似値に相当する初期配置の情報が利用できるので、複数の指標から得られる複数の初期配置によって、高精度に基準座標系を推定することができる。 |
技術概要) |
同一平面上にある少なくとも４つの点または線分を特定可能なように構成されており、当該少なくとも４つの点または線分の各々の相対的な位置座標関係としての配置が既知である指標が複数、同一平面上に設置されているのを撮像装置において撮像した撮像画像より、複数の指標が前記設置されている基準座標系を推定する画像処理装置であって、
前記撮像画像より指標を検出する指標検出部と、 前記検出された各指標の前記撮像装置に対する姿勢を平面射影変換の関係として推定する指標姿勢推定部と、 前記推定された各姿勢より前記基準座標系における各指標の初期配置を推定する指標配置推定部と、 前記推定された各指標の初期配置と前記検出された各指標の前記撮像画像上における配置との全体としての対応関係より、前記基準座標系の前記撮像装置に対する姿勢を推定する基準座標系推定部と、を備える。 |
| 実施実績 | 【有】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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