姿勢パラメータ推定技術

開放特許情報番号
L2019000343 この特許をより詳しくイメージできる、登録者からの説明資料をご覧頂けます
開放特許情報登録日
2019/3/5
最新更新日
2019/3/5

基本情報

出願番号 特願2013-203084
出願日 2013/9/30
出願人 KDDI株式会社
公開番号 特開2015-069410
公開日 2015/4/13
登録番号 特許第6121302号
特許権者 KDDI株式会社
発明の名称 姿勢パラメータ推定装置、姿勢パラメータ推定システム、姿勢パラメータ推定方法、およびプログラム
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 姿勢パラメータ推定装置、姿勢パラメータ推定システム、姿勢パラメータ推定方法、およびプログラム
目的 追跡可能な特徴点の数が減少してしまっても、処理負荷を増加させることなく、姿勢パラメータの推定精度の低下を抑制すること。
効果 処理負荷を増加させることなく、姿勢パラメータの推定精度の低下を抑制することができる。
技術概要
入力画像内の認識対象物の姿勢パラメータを推定する姿勢パラメータ推定装置であって、
予め定められた2種類以上の特徴点群の中から特徴点を追跡用特徴点として選択する特徴点選択手段と、
前記特徴点選択手段により選択された追跡用特徴点を追跡する特徴点追跡手段と、
前記特徴点追跡手段による追跡結果に基づいて、前記認識対象物の姿勢パラメータを求める姿勢パラメータ更新手段と、を備え、
前記特徴点選択手段は、前記2種類以上の特徴点群のうち第1の特徴点群の中から前記追跡用特徴点として選択した特徴点の中に、前記入力画像に存在していない特徴点が存在すれば、当該追跡用特徴点から当該特徴点を除外するとともに、除外した特徴点の数だけ、前記2種類以上の特徴点群のうち前記第1の特徴点群を除くものの中から特徴点を選択して当該追跡用特徴点に追加する際に、当該追跡用特徴点として選択されている他の特徴点までの距離が大きいものから順に選択することを特徴とする姿勢パラメータ推定装置。
実施実績 【有】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 KDDI株式会社

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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